SnS · absorbente
SEMICONDUCTORES · PELÍCULA DELGADA
Modelado físico deheterouniones SnS/CdS.
Entorno paramétrico para analizar la arquitectura Al → SnS → CdS → ZnO, la alineación energética, las discontinuidades de banda y la respuesta fotovoltaica de orden reducido.
Configurar modeloCdS · ventana/buffer
ZnO · capa opcional
01 · ARQUITECTURA
Configura la arquitectura del dispositivo
Modifica la secuencia material y evalúa la contribución física de cada región al transporte y la colección de carga.
02 · ENERGÍA
Alineación energética y parámetros de interfaz
La escala visual está comprimida para que las películas delgadas permanezcan legibles.
Antes del contacto: EF(SnS) = Ev + 0.25 eV y EF(CdS/ZnO) = Ec − 0.15 eV. En equilibrio se usa el valor común indicado.
Brecha de energía
Su brecha relativamente pequeña permite absorber una fracción amplia del espectro solar y generar pares electrón–hueco.
En películas delgadas, el SnS reporta aproximadamente 1.1–1.7 eV; el valor cambia con fase, espesor y método de depósito.
Alineación de bandas
Análisis de interfaces
Discontinuidades estimadas con la regla de afinidad electrónica
Convención: para A → B, ΔEc = χA − χB y ΔEv = (χA + Eg,A) − (χB + Eg,B). Estimación ideal de Anderson; no incluye dipolos interfaciales, defectos ni intermezcla.
03 · SIMULACIÓN FOTOVOLTAICA
Modelo cuantitativo de orden reducido
Alcance metodológico: estimación paramétrica preliminar mediante absorción Beer–Lambert, colección efectiva y ecuación de diodo. No sustituye la solución autoconsistente de Poisson y continuidad en SCAPS-1D.
Perfil espacial
Generación normalizada y probabilidad de colección
Análisis de sensibilidad
Respuesta óptica y eléctrica del modelo
| Variable | Jsc | Voc | FF | η |
|---|
Exportación de resultados
Archivos estructurados para análisis, trazabilidad y documentación doctoral
Excel: tres pestañas independientes con encabezados, unidades y filtros. Origin: cada archivo contiene un único conjunto tabulado, sin celdas vacías ni texto intercalado.